桂林電子科技大學(xué)電子工程與自動(dòng)化學(xué)院導(dǎo)師：尚玉玲

發(fā)布時(shí)間：2021-11-20 編輯：考研派小莉 推薦訪問：
桂林電子科技大學(xué)電子工程與自動(dòng)化學(xué)院導(dǎo)師：尚玉玲

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桂林電子科技大學(xué)電子工程與自動(dòng)化學(xué)院導(dǎo)師：尚玉玲 正文

[導(dǎo)師姓名]
尚玉玲

[所屬院校]
桂林電子科技大學(xué)

[基本信息]
導(dǎo)師姓名：尚玉玲
性別：
人氣指數(shù)：720
所屬院校：桂林電子科技大學(xué)
所屬院系：電子工程與自動(dòng)化學(xué)院
職稱：副研究員
導(dǎo)師類型：碩導(dǎo)
招生專業(yè)：儀器儀表工程（專業(yè)學(xué)位）
研究領(lǐng)域：集成電路測(cè)試，信號(hào)完整性分析



[通訊方式]
電子郵件：syl@guet.edu.cn

[個(gè)人簡(jiǎn)述]
尚玉玲，女，1977年生。2000年7月獲工學(xué)學(xué)士學(xué)位，2003年3月獲得工學(xué)碩士學(xué)位，2010年6月獲得西安電子科技大學(xué)工學(xué)博士學(xué)位，2016年6月江蘇大學(xué)機(jī)械工程博士后流動(dòng)站出站。2015年美國北卡羅來納州立大學(xué)高級(jí)訪問學(xué)者。副研究員，碩士生導(dǎo)師。

[科研工作]
近年來承擔(dān)的主要科研項(xiàng)目： 主持國家自然科學(xué)基金：高速電路互連的信號(hào)完整性故障與測(cè)試方法研究主持廣西自然科學(xué)青年基金：復(fù)雜物理結(jié)構(gòu)下的高速電路信號(hào)完整性測(cè)試方法研究. 主持江蘇省博士后科學(xué)基金：復(fù)雜物理結(jié)構(gòu)下高速電路SI測(cè)試方法研究 主持上海市機(jī)械自動(dòng)化與機(jī)器人重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室開放基金：高速互連系統(tǒng)制造工藝下串?dāng)_型故障的測(cè)試方法研究主持廣西區(qū)教育廳項(xiàng)目：高速電路復(fù)雜互連結(jié)構(gòu)信號(hào)完整性測(cè)試方法研究 主持廣西教育廳項(xiàng)目：高速互連系統(tǒng)制造工藝對(duì)信號(hào)完整性的影響機(jī)理及其故障測(cè)試模型研究 同時(shí)，作為主要參與者完成?。◤d）級(jí)以上科研項(xiàng)目10余項(xiàng)。近年來公開發(fā)表的學(xué)術(shù)論文（部分）： [1] 尚玉玲,李玉山.高速互連漸進(jìn)式串?dāng)_故障激勵(lì)測(cè)試模型研究[J].西安電子科技大學(xué)學(xué)報(bào),2009,36(2):314-321 ( EI檢索號(hào): 20091912076952) [2] 尚玉玲,李玉山.面向測(cè)試的SOC核間互連網(wǎng)絡(luò)約簡(jiǎn)算法研究[J].西安電子科技大學(xué)學(xué)報(bào),2009,36(5):871-876 ( EI檢索號(hào): 20094912530037) [3] Shang Yuling, Li Yushan. A new High-Speed Interconnect Crosstalk Fault Model and Compression for Test Space[J]. WSEAS Transactions on Communications, 2008,6(7), 647-652.( EI檢索號(hào):083311449214) [4] SHANG Yuling,LI Chunquan,XIONG Huaqing,TAN Enmin. A Structure Optimization Approach to Improve the Transmission Performance of Bonding Wire[J]. Applied Mechanics and Materials.(已錄用待發(fā)表, EI源刊) [5] 尚玉玲,李玉山.高速互連系統(tǒng)的串?dāng)_激勵(lì)測(cè)試壓縮算法研究[J].電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào),2009,23(4):23-27 [6] Shang Yuling, Yan Xuelong. Study on boundary scan interconnect test of PCB based on Genetic Algorithm[C]. The 6th International Conference on Electronics Packaging Technology,2005:348-350. (EI檢索號(hào)：070410384539) [7] Shang Yuling,Li Chunquan. Study on intention and forming conditions of SMT-MG[J].Wuhan Ligong Daxue Xuebao/Journal of Wuhan University of Technology, November, 2006:448-452(EI檢索號(hào): 070110349627) [8] Shang Yuling, Li Yushan.Test Pattern Generation for Crosstalk Fault of High-speed Interconnect[C].12th WSEAS International Conference on Circuits, Heraklion, 2008,7:255-260. [9] Shang Yuling, Li Yushan. A Survey of Research Method of High-Speed Interconnect for Signal Integrity[C].2006 7th International Symposium on Antennas,Propagation and EM Theory,2006,10: 26-29. [10] Shang Yuling, Li Yushan. Study on Method of Predicting IC Conducted Emissions Based on ICEM[C].The 7th International Conference on Electro

[教育背景]
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