合肥工業(yè)大學計算機與信息學院導師：王偉 正文

　　姓名：王偉
　　性別：男
　　出生年月：
　　職稱：副教授
　　學院：計算機與信息學院
　　研究方向：
　　嵌入式系統(tǒng)設(shè)計與應(yīng)用
　　微系統(tǒng)與智能機器
　　VLSI低功耗設(shè)計與測試
　　計算機系統(tǒng)結(jié)構(gòu)　　

　　簡歷
　　學歷和研究工作簡歷：
　　2002年9月-2007年3月：合肥工業(yè)大學 計算機應(yīng)用技術(shù)專業(yè) 碩博連讀
　　2004年6月-2006年9月：中國科學院 計算技術(shù)研究所 博士階段
　　2007年3月-2009年6月：中國科學院 計算技術(shù)研究所 博士后
　　2008年6月：合肥工業(yè)大學 計算機科學與技術(shù)專業(yè) 獲碩士生導師資格

　　學術(shù)任職：
　　中國計算機學會 高級會員
　　第6屆全國測試會議(CTC2010) 程序主席
　　WRTLT’09 出版主席
　　WRTLT’10程序委員會委員
　　王偉，男，2001年以優(yōu)異成績畢業(yè)于合肥工業(yè)大學計算機與信息學院計算機應(yīng)用專業(yè)，獲工學學士學位。2002年在合肥工業(yè)大學計算機與信息學院免試碩博連讀，并于2007年3月博士畢業(yè)，并取得計算機應(yīng)用技術(shù)工學博士學位。于2007年月至2009年6月，進入中國科學院計算技術(shù)研究所博士后流動站工作，期間獲中國博士后科學基金“一等”資助項目。目前已成為計算機與信息學院的青年學術(shù)骨干。主要研究方向為SoC設(shè)計與測試、低功耗技術(shù)、VLSI容錯與可靠性。近年來，作為課題負責人承擔中國博士后科學基金“一等”資助課題1項，教育部博士點新教師基金1項，承擔和參與973、國家自然科學基金重點等多項科研項目，發(fā)表論文十余篇。
　　科研經(jīng)歷豐富，具有較高的科研責任感與使命感，能夠認真的完成科研任務(wù)。協(xié)助指導博士生2名,協(xié)助指導碩士生2名，目前正在指導碩士生3名。
　　近年來，較系統(tǒng)的研究了嵌入式系統(tǒng)設(shè)計與容錯、VLSI低功耗技術(shù)、VLSI測試技術(shù)、VLSI容錯技術(shù)、熱量技術(shù)、NoC（Network-on-Chip, 片上網(wǎng)絡(luò)）測試與低功耗技術(shù)、3D芯片結(jié)構(gòu)與設(shè)計方法等，在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計、容錯、低功耗設(shè)計方面，具有扎實的基礎(chǔ)理論水平與實際應(yīng)用能力。

　　研究方向
　　嵌入式系統(tǒng)設(shè)計與應(yīng)用
　　微系統(tǒng)與智能機器
　　VLSI低功耗設(shè)計與測試
　　計算機系統(tǒng)結(jié)構(gòu)　　

　　教學工作
　　研究生課程：高級計算機系統(tǒng)機構(gòu)
　　本科生課程：計算機系統(tǒng)結(jié)構(gòu)； 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計自動化　　

　　獲獎情況
　　2010年 “博創(chuàng)杯”全國大學生嵌入式設(shè)計大賽 一等獎 指導教師
　　2009年 安徽省科技進步三等獎 團隊成員

　　論文著作
　　近年來的主要論文：

　　1．楊年宏，王偉，岳學民，陳田．一種熱量敏感的3D SoC并行測試方法研究．第6屆中國測試學術(shù)會議, 2010:307-309.
　　2．Wei Wang（王偉）, Yin-He Han, Xiao-Wei Li, Fang Fang（方芳）．Co-optimization of Dynamic/Static Test Power in Scan Test．Chinese Journal of Electronics, 2009, 18(1): 54-58．（SCI, EI）
　　3．方芳, 王偉, 王杰, 陳田, 楊年宏．低功耗測試研究進展．合肥工業(yè)大學學報(自然科學版), 2009, 32(6): 769-773.
　　4．方芳, 王偉, 韓銀和, 李曉維．基于片上網(wǎng)絡(luò)的多播測試中“熱點”的優(yōu)化算法．哈爾濱工業(yè)大學學報(增)．2009:166-171.
　　5．Fang Fang（方芳）, Wei Wang（王偉）, Yinhe Han, Xiaowei Li．A Thermal-aware Parallel Multicast Testing Method Based on Many-core Chips．Digest of Papers, IEEE 10th Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT’09), 2009:134-137.
　　6．Wang Wei（王偉）, Hu Yu, Han Yinhe, Li Xiaowei, Zhang Yousheng．Leakage Current Optimization Techniques During Test Based on Don’t Care Bits Assignment．Jorunal of Computer Science and Technology, 2007, 22(5):673-680．（SCI, EI）
　　7．陳田，梁華國，王偉，易茂祥，黃正峰．基于優(yōu)化編碼的LFSR重播種測試壓縮方案．第6屆中國測試學術(shù)會議, 2010:18-25．（已被推薦至《計算機研究與發(fā)展》，并已錄用）
　　8．顧婉玉，梁華國，徐三字，陳田，王偉．一種基于響應(yīng)中無關(guān)位填充的測試壓縮方法．第6屆中國測試學術(shù)會議, 2010:83-86.
　　9．陳田, 梁華國, 易茂祥, 王偉, 黃正峰, 張敏生．基于隨機訪問掃描的低功耗確定性測試方案．中國科學技術(shù)大學學報，已錄用，2010.
　　10．王偉, 韓銀和, 胡瑜, 李曉維, 張佑生．一種有效的低功耗掃描測試結(jié)構(gòu)-PowerCut．計算機研究與發(fā)展, 2007, 44(3): 473-478．（EI）
　　11．王偉, 韓銀和, 李曉維, 張佑生．基于測試向量中不確定位的漏電流優(yōu)化技術(shù)．電子學報, 2006, 34(2):282-286．（EI）
　　12．王偉, 韓銀和, 胡瑜, 李曉維, 張佑生．SoC測試中低成本、低功耗的芯核包裝方法．計算機輔助設(shè)計與圖形學學報, 2006, 18(9):1397-1402．（EI）
　　13．Wei Wang（王偉）, Yin-He Han, Xiao-Wei Li, You-Sheng Zhang, Yu Hu．PowerCut-A Novel Low-power Scan Testing．Proc．of IEEE 7th Workshop on RTL and High-Level Testing（WRTLT’06）, 2006:49-54.
　　14．王偉, 董福弟，陳田，方芳．一種3D芯片中TSV塊容錯設(shè)計方法．“計算機輔助設(shè)計與圖形學學報”審稿中，2011年2月投出.
　　15．王偉, 方芳，陳田,王杰．TBPT: 一種使用測試樹枝的基于多播NoC的SoC并行測試方法．“電子學報”審稿中, 2010年8月投出.

　　2009年獲發(fā)明專利授權(quán)一項：

　　發(fā)明名稱：一種塊標記的系統(tǒng)芯片測試數(shù)據(jù)壓縮方法
　　專利號：ZL200610156030.7
 

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